MQ工業有限会社では、材料の品質を確かなものとするために、各種分析・評価設備を導入し、正確かつ客観的なデータに基づく検証を行っています。ICP分析装置による元素組成の測定、SEM（走査型電子顕微鏡）による微細構造の観察、X線回折装置による結晶構造解析に加え、キーエンスの形状解析装置や専用システムによる詳細な形状評価が可能です。これらの設備を駆使し、多角的な視点から材料特性を明らかにすることで、取引先企業様へより信頼性の高い製品と技術情報を提供しています。
ICP分析
ICP分析は、高周波プラズマを用いて試料を原子化し、微量元素を高感度かつ高精度で定量できる分析手法です。材料中の元素組成を明確に把握することが可能です。
SEM（走査型電子顕微鏡）
電子ビームを用いて試料表面を拡大観察する装置です。ナノレベルの微細構造や形状を詳細に捉え、材料特性の評価に役立ちます。
X線回折装置（XRD）
結晶にX線を照射し、回折パターンを解析することで結晶構造や相組成を明らかにします。材料研究や品質管理に広く活用されています。
キーエンス形状解析装置
非接触で三次元形状を測定できる装置です。微細な凹凸や寸法を高精度に把握し、材料表面の特性評価や比較検証を可能にします。
形状解析システム
取得したデータを基に、形状や表面性状を多角的に解析するシステムです。寸法評価や欠陥検出を効率化し、信頼性の高いデータを提供します。
